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F-CDM_3kV 静电放电测试平台
国内首创半自动测试设计
典型应用场景
集成电路等器件本身由于接触分离或者摩擦带电,在接触或者处理器件时会发生放电,研究表明,带电器件模型(CDM)对器件造成的损坏远远多于 HBM 和 MM,F-CDM_3kV静电放电测试平台适用于半导体器件、微电子器件、厚膜器件和电阻器基片、压电晶体的静电放电试验。符合ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2018、AEC_Q100-011、AEC_Q101-005标准要求。
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主要特点
1.试验电压可达3kV、精度高、分辨率高、稳定性好
2.内置标准等级,方便型式试验的测试
3.全智能程控式设计,液晶显示、操作方便
4.采用半导体电子开关,寿命长,性能稳定
5.集成了高倍显微镜、自动电机、CDM模块于一体的模拟器
主要技术指标
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